В таблице 1-1 дается обзор функциональности системы TOPAS в режиме пользовательского интерфейса (GUI-режим) и режиме запуска. Обратитесь к техническому справочному руководству для получения подробной информации.
Таблица 1-1. Функциональность TOPAS. Функции, отмеченные, как GUI, доступны в GUI-режиме (режим графического пользовательского интерфейса). Функции, отсутствующие в TOPAS P помечены значком =P=.
Функции
|
Методы подбора профиля и их применение
|
Подбор одной линии по методу подбора для порошкового образца – Whole Powder Pattern Fitting
|
| GUI
|
Индицирование (LSI-индекс, LP-поиск)
|
| GUI
|
Декомпозиция порошкового образца (метод Поули, метод ЛеБейля)
|
| GUI
|
Уточнение структуры методом Ритвельда
| P
| GUI
|
Количественный анализ методом Ритвельда
| P
| GUI
|
Определение структуры (имитация отжига, переворот заряда), отображение электронной плотности
| P
|
|
Данные измерений и параметры уточнения
|
|
|
Лабораторные и синхротронные рентгеновские данные, постоянная длина волны и данные нейтронных времяпролетных измерений
|
| GUI
|
Время подсчета переменных (VCT)
|
| GUI
|
Данные от одного кристалла
| P
|
|
Комбинированное уточнение рентгеновских и нейтронных порошковых данных
| P
| GUI
|
Комбинированное уточнение данных о порошке и одном кристалле1)
| P
|
|
Отсутствие зависимости от рентгеновских данных (могут подбираться все данные XY)
|
| GUI
|
Поддержка неэквидистантных шагов по оси X
|
| GUI
|
Поддержка отрицательных значений по оси X
|
| GUI
|
Одновременное уточнение по любому числу дифракционных моделей с любым числом пиков, точек данных и параметров
|
| GUI
|
Уточнение любого числа структур в дифракционной модели с любым числом мест в структуре и атомов в месте
| P
| GUI
|
Все параметры можно фиксировать, уточнять, связывать и ограничивать
|
| GUI
|
Количественный фазовый анализ
|
|
|
Поддержка методов добавок и калибровки
|
| GUI
|
Количественное определение фаз с частичными или неизвестными кристаллическими структурами
|
| GUI
|
Коррекция микроабсорбции методом Бриндли (Brindley)
|
| GUI
|
Анализ степени кристалличности
|
| GUI
|
Модели формы пиков
|
|
|
Аналитический подбор профилей
|
| GUI
|
Функции профиля
|
|
|
PVII, измененный PV, TCHZ PV, Voigt
|
| GUI
|
Асимметрия
|
|
|
SPV, SPVII (для подбора одной линии)
|
| GUI
|
Простая и полная осевые модели (Чири и Коэльо) (Cheary & Coelho, 1998a, b)
|
| GUI
|
Коррекция асимметрии по Фингеру (Finger) (Фингер и др., 1994 г.)
|
| GUI
|
Определение размера кристаллического блока по методу Шеррера (Scherrer)
|
| GUI
|
Прямой сверточный подход
|
| GUI
|
Измеряемые функции инструментов
|
| GUI
|
Фундаментальный подход к параметрам
|
| GUI
|
Анализ нестандартных кристаллических блоков и анализ деформаций
|
| GUI
|
Уточняемые параметры инструментов
|
| GUI
|
Determination of mean sample absorption coefficient and sample thickness
|
| GUI
|
Tube tails correction
|
| GUI
|
Support of user-defined convolutions
|
| GUI
|
Фоновые модели
|
|
|
Полиномы Чебышева n-го порядка
|
| GUI
|
Одиночные пики (PV, SPV, PVII, SPVII, Гаусс, Лоренц, Фойхт, FPA)
|
| GUI
|
Фон типа 1/x
|
| GUI
|
Модулированный фон
|
|
|
Модели преимущественной ориентации
|
|
|
Марч-Доллас (March-Dollase)
|
| GUI
|
Сферические гармоники
|
| GUI
|
Анизотропные модели уточнения
|
|
|
Расширение пиков
|
|
|
Сдвиги пико
|
|
|
Преимущественная ориентация
|
|
|
Температурные факторы
| P
|
|
Связи и ограничения
|
|
|
Любые линейные и нелинейные условия
|
| GUI
|
Функции коррекции Может применяться ко всем параметрам, требующим уточнения
| P
|
|
Ограничения на длину связи (Антибамп, парабола, минимизация энергии решетки, пользовательский режим)
| P
|
|
Жесткие и мягкие тела со всеми уточняемыми параметрами
| P
|
|
Редактор жестких тел
|
|
|
Процедуры минимизации
|
|
|
Маркварт
|
| GUI
|
Метод BFGS
|
| GUI
|
Линейная минимизация
|
| GUI
|
Экстраполяция
|
| GUI
|
Метод разреженных матриц
|
| GUI
|
Прочее
|
|
|
Расширяемый язык макросов/
|
|
|
поддержка пользовательских параметров уточнения и модели уточнения
|
|
|
Возможность полностью автоматической работы
|
|
|
1) Данные об одном кристалле недоступны в GUI-режиме
|
|
|