СВОДНАЯ ТАБЛИЦА ДИАГНОСТИКИ СФОРМИРОВАННОСТИ МЫСЛИТЕЛЬНЫХ ПРОЦЕССОВ
СВОДНЫЙ ПРОТОКОЛ ИЗУЧЕНИЯ УРОВНЯ ПЕРВИЧНОЙ АДАПТАЦИИ ПЕРВОКЛАССНИКОВ
Баллов - средний уровень
Критерии определения относительного уровня
Для выявления относительного уровня сформированости мыслительных операций складываются результаты 4 субтестов. Получаем общий балл.
21-25 баллов – высокий уровень
17-20 баллов – выше среднего
10-13 баллов – ниже среднего
9 и ниже – низкий уровень
(по результатам анкеты для родителей)
Ф.И.О. РЕБЕНКА | Охотно ли ребенок идет в школу | Приспосо бился ли к режиму? | Пере живает ли свои учебные успехи и неуспехи | Часто ли ребенок делится с вами школь ными впечатле ниями | Каков преоблада ющий эмоциональ ный характер этих впечат лений | Сколько времени тратит | Нуждается ли в вашей помощи при выполне нии Д/3 | Как ребенок преодо левает труд ности в работе? | Способен ли сам проверить работу. найти ошибки и испра вить их | Часто ли ребенок жалуется на това рищей по классу, обижа ется на них | Справля ется ли ребенок с учебной нагруз кой без перена пряжения | Характер адап тации | |
№ П/П | Ф.И.ребенка | Субтест № 1 | Субтест № 2 | Субтест № 3 | Субтест № 4 | Баллы | Уровень | ||||||||||||||||
Здесь общие слова, что в микроэлектронике за 15-20 лет будет достигнуто 5 нм: https://www.helmholtz.de/en/research/key_technologies/fundamentals_of_future_information_technology/
|
|
|
|
Есть ссылки на то, что имеется оборудование для работы с пучками фотонов и ионов:
https://www.helmholtz.de/en/research/structure_of_matter/research_with_photons_neutrons_and_ions_pni/photons/
https://www.helmholtz.de/en/research/structure_of_matter/research_with_photons_neutrons_and_ions_pni/ions/
- Фраунгоферовский FEP (центр низкоэнергетичных электронных пучков и плазменных технологий)