Качество и эксплуатационная надежность сварных узлов при монтаже лепестковых выводов на кристалл и на подложку ГИС будут предопределяться их конструктивным исполнением, методом монтажа и уровнем напряжений, возникающих в сварных или паянных соединениях.
Рассмотрим конструктивное исполнение присоединения кристалла с точки зрения возникающих в нем напряжений.
В случае присоединения кристалла с балочными выводами напряжения в выводах (лепестках) определяются по формуле:
sл=Ел/ l л*(bкр*aкр*DTкр+2* l л*aл*DTл- l *aп*DTп)
Где sл - напряжения растяжения в лепестке; Ел - модуль Юнга материала лепестка; aкр, aл, aп - коэффициенты линейного расширения материала кристалла, лепестка и подложки при монтаже и эксплуатации. См. рис 7:
Рис.7
1 - кристалл; 2 - лепестковые выводы