Газофазные методы получения пленок нитрида кремния.
Технологии формирования пленок нитрида кремния.
Термическое осаждение пленок оксида.
Для нанесения защитных пленок оксида кремния используют два метода, основанных на испарении монооксида кремния. В первом методе используют порошкообразный монооксид кремния, во втором – кремниевый электрод нагревают в атмосфере кислорода.
Оксиды, напыляемые на кремниевую подложку, представляют собой комплексы вида Si – SiO – SiO2. При использовании монооксида кремния температура кремниевой подложки обычно составляет 300 0С и выше для обеспечения высокой адгезии пленки. При малой скорости осаждения и высокой температуре пленки имеют состав SiO2, при больших скоростях напыления состав пленок соответствует SiO. При использовании кремниевого электрода его температура обычно составляет 700 – 1000 0С, парциальное давление кислорода – 10-4 Па. В этом случае пленка диоксида кремния толщиной 0,1 мкм формируется примерно за 30 мин.
|
|
Диэлектрические пленки на основе нитрида кремния получают все большее распространение в микроэлектронике, так как обладают удовлетворительными диэлектрическими характеристиками при меньшей толщине, чем пленки диоксида кремния. Кроме того, пленки нитрида кремния можно выращивать при более низкой температуре и с большей скоростью, чем пленки диоксида кремния.
Существует несколько вариантов метода газофазного осаждения пленки нитрида кремния, в которых используют какую-либо реакцию разложения газообразного соединения на нагретой поверхности подложки.
Реакция взаимодействия кремния с азотом осуществляется при температуре подложки 1100 - 1300 0С. В данной технологии вдоль поверхности подложки продувают сухой азот, который взаимодействует с подложкой с образованием нитрида кремния.
Реакция взаимодействия силана с аммиаком протекает при температуре 700 - 1100 0С. В данной технологии над поверхностью нагретой подложки продувают смесь силана и аммиака в пропорции 1: 20, которые взаимодействуют с образованием нитрида кремния и выделением водорода.
Реакция взаимодействия тетрахлорида кремния с аммиаком протекает при температуре 1100 0С. Особенностью процесса является образование на поверхности подложки слоя аморфного нитрида кремния. Имеется ряд модификаций данного процесса, в которых рабочая температура снижена до 750 - 980 0С.
Достоинством данного метода является то, что реакция осаждения пленок нитрида кремния протекает при комнатной температуре за счет энергии газового разряда между анодом и катодом в рабочей камере.
Для проведения процесса в качестве катода используют высокочистые кремниевые пластины. При этом подложка, на которую осаждается пленка, является анодом. В качестве рабочего газа используют смесь азота и аргона. При этом азот является основным реагентом при выращивании пленки нитрида кремния, а аргон ускоряет процесс роста пленки. При напряжении на разрядном промежутке порядка 3 кВ, давлении газов - 1,3 - 13 Па скорость роста пленки составляет 0,01 - 0,15 мкм/мин. Разброс толщины пленки по диаметру подложки не превышает 5%.
|
|