Результаты изучения количественного и качественного состава кристаллической составляющей стоматологических стеклокерамических материалов методом РФА

Исследованы 8 импортных стоматологических облицовочных стеклокерамических материалов, которые по данным Дьяконенко EJL (2001) составляют 97% от общего числа, применяемого в отечественной стоматологии для металлокерамических зубных протезов, а также 1 российский материал и 1 материал совместного производства России и Украины, с целью их идентификации и определения принадлежности фирме-изготовителю: 1. Ivoclar EPS-Classic (Лихтенштейн) 2. d-SignIPS (Лихтенштейн) 3. Duceram (Германия) 4. Duceram Plus (Германия) 5. Heraceram (Германия) 6. Vita Omega (Германия) 7. EX-3 Noritake (Япония) 8. Synspar (США) 9. Симет (Россия) 10. Ultrapaline (Россия, Украина) Для изучения возможных изменений кристаллического состава, во время термообработки, сопоставления фазового состава на поверхности образца и в объеме, а так же оценки стабильности при многократном обжиге, образцы стеклокерамических масс были разделены на 5 групп. 1. В первую группу исследуемых материалов вошли исходные порошки транспаранта, эмали, дентина, суспензии или порошки опака. 2. Вторую группу материалов составили спеченные стеклокерамические блоки транспаранта, эмали, дентина и опака. 3. В третью группу вошли спеченные стеклокерамические блоки транспаранта, эмали, дентина и опака после истирания в порошок. 4. Четвертую группу составили металлокерамические коронки. 5. Пятая группа включала фрагменты стеклокерамической облицовки металлокерамических коронок. Спекание материалов в блоки проводили в электровакуумной печи Programat Р90 (Ivoclar-Vivodent, Лихтенштейн) строго соблюдая инструкции изготовителей. Стоматологические стеклокерамические материалы относятся к классу стеклокристаллических гетерофазных материалов, структура которых состоит из двух фаз: рентгеноаморфной стекловидной и рентгеноструктурной кристаллической. На исследовании кристаллической составляющей стеклокерамических материалов основан метод рентгенофазового анализа, который мы использовали при проведении исследования. При бомбардировке вещества быстро летящими электронами можно получить электромагнитное излучение широкого диапазона длин волн 102 - 10"5А (один ангстрем равен КГ8 см). Такое излучение называют рентгеновским. В спектре электромагнитных волн оно расположено между ультрафиолетовым и гамма-излучением. Метод качественного рентгенофазового анализа основан на определении положений и относительных интенсивностей дифракционных максимумов, возникающих при взаимодействии рентгеновских лучей с электронными оболочками атомов кристаллических веществ, в результате соизмеримости периодов кристаллической решетки с длиной волны рентгеновского излучения. На кристаллах рентгеновские лучи дифрагируют, как на дифракционных решетках. Для нахождения условий возникновения дифракционных максимумов кристалл условно рассматривают как совокупность атомных плоскостей. Рентгеновские лучи отраженные различными атомными плоскостями, взаимодействуют между собой — интерферируют (рис.1). Результирующая интерференции когерентных волн определяется их амплитудами и относительными фазами. Амплитуды волн, отраженных атомными плоскостями, можно считать одинаковыми, а относительные фазы волн зависят от величины межплоскостного расстояния d(hki), угла падения и отражения луча (в). В частности разность хода лучей 7 и 2 на рис.1 определяется как: А =АВ +BC = 2dsine, а их относительная фаза q = А / X, периодична с периодом %. Для лучей I и 3 разность хода удваивается, для 1 и 4 утраивается и т.д. В случае множества отражающих плоскостей можно подобрать такую удаленную от поверхности плоскость М, для которой А = X I 2, т.е. она отражает в противоположной фазе относительно первой плоскости: лучи I и М гасят друг друга. Аналогично гасятся лучи 2 и М+1, 3 и М+2 и т.д., т.е. интенсивность результирующей волны равна нулю. И лишь когда все плоскости отражают в одной фазе, т.е. в разности хода укладывается целое число длин волн А = пХ, взаимодействующие волны усиливают друг друга.