Исследование электрических свойств полупроводниковых материалов проводится по схеме, изображенных на рис. 11.
Рис. 11. Схема лабораторной установки
- Подать напряжение с помощью переключателя П1 (загорится сигнальная лампа);
- Перевести переключатель П1 в положение “п/п”;
- Тумблер Т1 переключить в положение “п/п”, тем самым подготовить схему к исследованию вольт-амперной характеристики полупроводниковых диодов;
- Тумблер Т2 переключить в положение “ИП”, т.е. подключить источник постоянного напряжения;
- на источнике постоянного напряжения включить тумблер “сеть” (загорится сигнальная лампа);
- снять вольт-амперные характеристики в следующем порядке: подключить источник постоянного напряжения ИП, для чего замкнуть тумблер Т3 на соответствующий элемент (германий, кремний), в положение “Пр” для снятия прямой ветви p-n-перехода и в положение “Обр” для снятия обратной ветви этого перехода.
Первоначально снять одну из ветвей вольт-амперной характеристики того или иного элемента, для чего изменять напряжение на p-n-переходе (показание прибора V) от “0” до допустимого значения через равные интервалы (5 точек), фиксируя показания прибора А1 для случая снятия прямой ветви характеристики и А2 – обратной. Значения напряжения изменять потенциометром, размещенным на источнике питания ИП.
|
|
Сняв вольт-амперные характеристики p-n-перехода при одной температуре, эксперимент повторить при другой температуре. Для поддержания заданной температуры подключить термостат.
- Результаты измерений занести в таблицу 1.
Таблица 1
Прямая ветвь | Обратная ветвь | ||||||||
Iпр, мА | Uпр, В | Uобр, В | Iобр, мкА | ||||||
T1, °С | T2, °С | T1, °С | T2, °С | ||||||
Ge | Si | Ge | Si | Ge | Si | Ge | Si | ||