Методика обработки максимумов

Одной из главных проблем при определении распределения электронной плотности является нахождение атомно-рассеивающего фактора f(s), связанный со структурным фактором  и, соответственно, интегральной интенсивностью дифракционных максимумов и интенсивностью первичного пучка. [28]

Экспериментальное значение структурного фактора определялось из выражения:

 (3.2.1)

где I ₀ – интенсивность первичного пучка, l – длина волны рентгеновского излучения, h – высота приемной щели, w – ширина приемной щели, r – расстояние от образца до детектора, m – линейный коэффициент поглощения исследуемого вещества, P _o – поляризационный фактор, Р ₀=0.5(1+cos²2J), р – фактор повторяемости, V – объем элементарной ячейки, J – угол брегговского рассеяния, DJ =J₂-J₁,  - геометрический множитель, I _hkl – интегральная интенсивность рефлекса, которая находилась по методике описанной в. [29]