Среди выпускаемого промышленностью России школьного оборудования для физических кабинетов имеется демонстрационная установка излучателя электромагнитных волн сантиметрового диапазона с набором рупорных антенн и приемным устройством, позволяющим исследовать интерференционные и дифракционные явления электромагнитных волн этого диапазона. Так как волны сантиметрового диапазона при прохождении через многие диэлектрики сильно поглощаются, в качестве призм и преломляющих устройств следует выбирать слабо поглощающие материалы, например, фторопласт.
Задание
1. Разработать и описать методику исследования интерференции и дифракции электромагнитных волн сантиметрового диапазона, дав теоретическое и экспериментальное обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погрешностей (ошибок) измеряемых величин.
2. Придумать и описать методику исследования проникновения электромагнитных волн сантиметрового диапазона при переходе из "оптически" более плотной в "оптически" менее плотную среду при полном внутреннем отражении волн, дав достаточно подробное теоретическое и экспериментальное обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погрешностей (ошибок) измеряемых величин.
|
|
3. Провести достаточно подробную обработку результатов измерений с указанием погрешностей.
Литература
1. Мякишев Г.Я.,Буховцев Б.Б. Физика 11. Просвещение, Москва, 1994.
2. Физика 11. Под редакцией Пинского А.А. Просвещение, Москва, 1995.
3. Ландсберг Г.С. Элементарный учебник физики, том 3. Наука, Москва, 1995.
ОПТИКА
Тема 32. Изучение центрированных оптических систем
Большинство реальных оптических систем содержит несколько преломляющих сферических поверхностей. Если центры кривизны всех сферических поверхностей лежат на одной прямой, которую называют главной оптической осью системы, то такую оптическую систему называют центрированной. Простейшей центрированной оптической системой является тонкая стеклянная линза со сферическими поверхностями, так как два центра кривизны поверхностей всегда лежат на одной прямой. Основной характеристикой тонкой линзы служит фокусное расстояние, величина которого зависит от величины показателей преломления стекла и внешней среды, а также радиусов кривизны сферических поверхностей.