Держатели образцов

Устройство для удерживания образца, которое помещается в просвечивающий электронный микроскоп, называется держателем образца. Стандартный ПЭМ-образцец представляет собой тонкий диск диаметром 3 мм. Для электронной микроскопии высокого разрешения и для работы в режиме электронной дифракции необходимо точно отрегулировать ориентацию образца. Таким образом, для микроструктурного анализа кристаллических образцов используется держатели образцов с двойным наклоном, имеющие механизм, позволяющий наклонять образец относительно двух взаимно перпендикулярных осей. На рис. 1.9 показаны конструкция и принцип вращения такого.

Рис. 1.9. Конструкция и механика держателя образцов с двойным наклоном для бокового ввода образца [1]

Для энергодисперсионного анализа аналитический держатель образца делают из бериллия, позволяющий свести к минимуму рентгеновский фон. Отметим, что бериллий ядовит, поэтому прикосновение к бериллиевому наконечнику голыми руками может повлечь за собой вред для здоровья.

На сегодняшний день существует широкое разнообразие держатели образцов. На рынке представлены держатели с нагревом, с охлаждением, с возможностью механических испытаний для наблюдения дислокаций in-situ путем приложения к образцу механического напряжения и т.д. Держатель образцов с нагревом выполнен из молибдена. Он позволяет наблюдать образцы при температурах до 800°С. Держатели образцов с охлаждением существуют в двух вариантах исполнения. В одном используется жидкий азот, благодаря чему обеспечивается возможность наблюдать образец при температурах до — 180° С. В другом - жидкий гелий и объект исследования может быть охлаждён до —250° С.